企業(yè)介紹：

作為制造商和系統供應商,HOMMEL ETAMIC為工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程提供廣泛的測量和測試技術(shù)組合。它包括用于氣動(dòng),觸覺(jué)或光學(xué)測量和檢查粗糙度,輪廓,形狀和尺寸以及表面光學(xué)檢測的高精度技術(shù)。

HOMMEL ETAMIC 提供標準系統和定制解決方案。針對汽車(chē)、航空航天、醫療技術(shù)和其他制造行業(yè)的工業(yè)生產(chǎn)量身定制的測量和測試系統靈活多樣。HOMMEL ETAMIC 對其進(jìn)行個(gè)性化設計,以滿(mǎn)足測量任務(wù)、自動(dòng)化程度和位置的要求。結果將被記錄和存儲。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

霍梅爾-艾達米克W20便攜式粗糙度儀:霍梅爾便攜式粗糙度儀HOMMEL-ETAMIC W20

德國HOMMEL粗糙度儀/表面粗糙度檢測儀霍梅爾-艾達米克W20特點(diǎn)一覽：

1，探測**-由于采用了無(wú)導頭的探測系統，所以可移動(dòng)測量所有常見(jiàn)的粗糙度、波紋度和原始輪廓特性參數。

2，定*位自動(dòng)-配置了電動(dòng)測頭降低系統，所以測頭可自動(dòng)在工件表面定位并提起。

3，測量靈活-內裝蓄電池，所以使用時(shí)不需外部電源，盡顯移動(dòng)測量的靈活性。

4，信息廣*泛-可顯示特性參數、微觀(guān)輪廓圖形、支撐率曲線(xiàn)和統計數據。

5，操作簡(jiǎn)單-通過(guò)配置上下文提示功能鍵的觸摸屏，操作簡(jiǎn)單。

6，記錄方便-集成了打印機、可即時(shí)記錄測量結果文件，簡(jiǎn)單方便。

7，測量可靠-通過(guò)內置的粗糙度標準塊可即時(shí)檢測測量?jì)x，保證了測量的可靠性。

 德國HOMMEL粗糙度儀/表面粗糙度檢測儀霍梅爾-艾達米克W20技術(shù)參數：

非滑靴式粗糙度測頭，*大掃描長(cháng)度 20mm，截止波長(cháng)0.25/0.8/2.5mm

可設置7種程序，并配置獨立的評估條件

4.3寸彩色觸摸顯示屏

可直觀(guān)顯示相關(guān)參數、輪廓、曲線(xiàn)及統計數據

德國HOMMEL粗糙度儀霍梅爾-艾達米克W20內置打印機

內存可容納 2000 個(gè)數據及 500 條輪廓數據

USB 電纜可與電腦連接

Waveline 20 驅動(dòng)單元，驅動(dòng)長(cháng)度 20mm，直線(xiàn)度 0.2um/20mm

自動(dòng)回零功能，調平范圍 ±2°

測針TTKL 300L 2um/90°，測量范圍 300um

使用操作：

探測全面-由于采用了無(wú)導頭探測系統，所以可移動(dòng)測量所有常見(jiàn)的粗糙度、波紋度和原始輪廓特性參數

定位自動(dòng)-配置了電動(dòng)測頭降低系統，所以測頭可自動(dòng)在工件表面定位和提起

測量靈活-內置蓄電池，所以使用時(shí)不需外接電源，盡顯移動(dòng)測量的靈活性

信息廣泛-可顯示特性參數，微觀(guān)輪廓圖形、支撐率曲線(xiàn)和統計數據

操作簡(jiǎn)單-通過(guò)配置上下文提示功能鍵的觸摸屏，操作簡(jiǎn)單

記錄方便-集成了打印機，可及時(shí)記錄測量結果文件，方便簡(jiǎn)單

測量可靠-通過(guò)內置標準粗糙度標準塊，可及時(shí)檢測測量?jì)x，保證了測量的可靠性

Waveline™20給進(jìn)單元，用于粗糙度和波紋度的精密測量

   集成啟動(dòng)按鈕，可單手操作

   配置高精密導軌，可對直線(xiàn)度和波紋度進(jìn)行精密測量

   具有不同測量速度

   可測量所有位置（還可仰測）

   無(wú)導頭型測頭范圍廣，可針對不同應用情況

測頭自動(dòng)下沉

  測頭在工件表面自動(dòng)定位并自動(dòng)調整所選的測量范圍

  測量結束時(shí)測頭自動(dòng)抬起，可在換工件時(shí)免受損壞

通過(guò)觸摸屏完成上下文提示操作

8個(gè)測量程序

針對4個(gè)基本功能的功能鍵

可評價(jià)所有常見(jiàn)的粗糙度、波紋度和原始輪廓特性參數

公差評估的可能性廣

通過(guò)觸摸屏快速且舒適輸入其他數據

清晰顯示測量結果：特性參數、輪廓線(xiàn)圖形、交互支撐率曲線(xiàn)、廣泛的統計功能

Waveline™20測量站

  能使移動(dòng)式W20變成完整的固定式測量站

  帶T型槽的石板規格400X280mm

  高度可調范圍300mm

  回轉裝置的回轉范圍：±45°

  可選配測量平臺和其他附件